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Modeling and Verification of 1/f Noise Mechanisms in FAPbBr3 Single‐Crystal X‐Ray Detectors |
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Zhongyu Yang; Qingli Zhang; Yuting Liu; Binbin Liu; Zhiping Zheng; et al 出版日期:2026-01-06 |
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(2025-6-4)