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![]() 氨基硅烷栅氧化物修饰对n沟道多晶OFET性能的电子掺杂和增强
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期刊:Advanced materials interfaces 作者:Nara Shin; Karl Sebastian Schellhammer; Min Ho Lee; Jakob Zessin; Mike Hambsch; et al 出版日期:2021-07-26 |
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