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 The Solder Layers Degradation of 6.5kV IGBT Modules for Railway in Power Cycling Tests Considering Moisture Intrusion 相关领域
绝缘栅双极晶体管
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Yuxing Yan; Luhong Xie; Erping Deng; Weijie Wang; Qingtong He; et al 出版日期：2025-01-01 |
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