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![]() 从制造角度排除过驱动FinFET ESD功率钳位的高泄漏问题
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故障排除
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Guangyi Lu; Lihui Wang; Ling Wang; Xin Gao; Jiahao Wei; et al 出版日期:2024-01-01 |
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