| 标题 |
Experimental investigation of defect imaging using a phased array probe with a stacked plate buffer 堆叠板缓冲器相控阵探头缺陷成像的实验研究
相关领域
相控阵
缓冲器(光纤)
材料科学
光学
相控阵超声
相控阵光学
工程类
物理
电气工程
天线(收音机)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:NDT & E International 作者:Mingqian Xia; Takahiro Hayashi; Naoki Mori 出版日期:2024-12-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)