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EUV Minimum Pitch Single Patterning for 5nm Node Manufacturing |
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期刊:2022 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC) 作者:Jungil Park; Yunki Choi; Jeong Hoon Ahn; Byung Je Jung; Hoyoun Lee; et al 出版日期:2022-09-12 |
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