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 Influence of systematic errors in spectral photometric measurements on the determination of optical thin film parameters 相关领域
薄膜
材料科学
系统误差
表征（材料科学）
电介质
观测误差
光学
质量（理念）
实验数据
光电子学
物理
统计
数学
纳米技术
量子力学
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| DOI |
10.1364/oic.2001.tud2
doi
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| 其它 |
期刊：Optical Interference Coatings 作者：Alexander Tikhonravov; M.K. Trubetskov; M.A. Kokarev; T.V. Amotchkina; A. Duparre 出版日期：2001-01-01 |
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