| 标题 |
 A meta-heuristic search-based input vector control approach to co-optimize NBTI effect, PBTI effect, and leakage power simultaneously 一种基于元启发式搜索的同时优化NBTI效应、PBTI效应和泄漏功率的输入矢量控制方法
相关领域
负偏压温度不稳定性
泄漏（经济）
漏电功率
电子工程
工程类
可靠性工程
电气工程
MOSFET
晶体管
电压
经济
宏观经济学
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| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：Abhishek Bhattacharjee; Apangshu Das; Dheeraj Kumar Sahu; Sambhu Nath Pradhan; Kaushik Das 出版日期：2023-04-10 |
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