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Characterization of self-heating in cryogenic high electron mobility transistors using Schottky thermometry 用肖特基测温法表征低温高电子迁移率晶体管的自热特性
相关领域
光电子学
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Alexander Y. Choi; Iretomiwa Esho; Bekari Gabritchidze; Jacob Kooi; Austin J. Minnich 出版日期:2021-10-21 |
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