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Lateral charge migration induced abnormal read disturb in 3D charge-trapping NAND flash memory
三维电荷俘获NAND闪存中横向电荷迁移引起的异常读取干扰
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期刊:Applied Physics Express 作者:Fei Wang; Rui Cao; Yachen Kong; Xiaolei Ma; Xuepeng Zhan; et al 出版日期:2020-04-17 |
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