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 Universal tunneling behavior in technologically relevant P/N junction diodes 技术相关P/N结二极管中的通用隧穿行为
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：P. M. Solomon; J. Jopling; D.J. Frank; C. D'Emic; O. Dokumaci; et al 出版日期：2004-05-06 |
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