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 Calibration of a Kelvin Scanning Probe Microscope and Measurement of the Fermi Levels of Lead Sulfide Nanocrystals 相关领域
材料科学
校准
分析化学（期刊）
热解炭
开尔文探针力显微镜
工作职能
扫描隧道显微镜
显微镜
扫描电子显微镜
纳米晶
显微镜
光电子学
硫化铅
费米能级
扫描探针显微镜
校准曲线
氧化物
纳米技术
光学
高定向热解石墨
工作（物理）
氧化锡
硫化物
锡
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期刊：Instruments and Experimental Techniques 作者：D. A. Onishchuk; A. P. Litvin; P. S. Parfenov 出版日期：2025-08-01 |
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(2025-6-4)
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