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 Direct mapping and characterization of dry etch damage-induced PN junction for long-wavelength HgCdTe infrared detector arrays 长波长HgCdTe红外探测器阵列干法刻蚀损伤诱导PN结的直接映射与表征
相关领域
材料科学
光电子学
红外线的
光学
探测器
表征（材料科学）
波长
物理
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