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Spatially-discriminating trap characterization methods for HEMTs and their application to RF-stressed AlGaN/GaN HEMTs |
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期刊:2010 International Electron Devices Meeting 作者:A. R. Arehart; A. Sasikumar; G. D. Via; B. Winningham; B. Poling; et al 出版日期:2010 |
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(2025-6-4)