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Extension of Rietveld Refinement for Benchtop Powder XRD Analysis of Ultrasmall Supported Nanoparticles
Rietveld精细化扩展用于超小颗粒负载纳米粒子的台式粉末XRD分析
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期刊:Chemistry of materials 作者:Jeremiah Lipp; Ritubarna Banerjee; Md. Fakhruddin Patwary; Nirmalendu Patra; Anhua Dong; et al 出版日期:2022-09-12 |
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