标题 |
Low Operation Voltage, High-Temperature Reliable, and High-Yield BEOL Integrated Hf$_{\text{0}.\text{5}}$Zr$_{\text{0}.\text{5}}$O$_{\text{2}}$ Ferroelectric Memory Arrays
低工作电压、高温可靠、高产率的BEOL集成Hf$_{\text{0}.\text{5}}$Zr$_{\text{0}.\text{5}}$O$_{\text{2}}$铁电存储阵列
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Shuming Guo; Jiajie Yu; Hao Wang; Xingcheng Jin; Hongbo Li; et al 出版日期:2024 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |