标题 |
Versatile application of a modern scanning electron microscope for materials characterization
现代扫描电子显微镜在材料表征中的广泛应用
相关领域
扫描透射电子显微镜
扫描电子显微镜
材料科学
表征(材料科学)
常规透射电子显微镜
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期刊:Journal of Materials Science 作者:Cheng Sun; Stefan Lux; Erich Müller; Matthias Meffert; Dagmar Gerthsen 出版日期:2020-10-01 |
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