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  Accurate evaluation of interface trap density at InAs MOS interfaces by using C–V curves at low temperatures 相关领域
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Ryohei Yoshizu; Kei Sumita; Kasidit Toprasertpong; Mitsuru Takenaka; Shinichi Takagi 出版日期：2023-01-10 |
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