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 Reliability and failure mode analysis of high-speed 850-nm multi-mode and 795-nm single-mode VCSELs for space applications 相关领域
可靠性（半导体）
模式（计算机接口）
失效模式及影响分析
材料科学
光电子学
可靠性工程
电子工程
计算机科学
物理
工程类
复合材料
操作系统
功率（物理）
量子力学
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期刊： 作者：Yongkun Sin; Jesse Theiss; Michael Huang; Emily Tang; Jeffrey Childs; et al 出版日期：2024-03-12 |
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