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 Evidence of reduced interface states in Al2O3/AlGaN MIS structures via insertion of ex situ regrown AlGaN layer 通过插入异位再生AlGaN层降低Al2O3/AlGaN MIS结构界面态的证据
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期刊：Applied Physics Express 作者：Ali Baratov; Shinsaku Kawabata; S. Urano; Itsuki Nagase; M. Ishiguro; et al 出版日期：2022-09-02 |
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