| 标题 |
Characterization of silicon nanowires grown on silicon, stainless steel and indium tin oxide substrates 硅、不锈钢和氧化铟锡衬底上生长的硅纳米线的表征
相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
拉曼光谱
扫描电子显微镜
硅
氧化铟锡
铟
化学工程
化学气相沉积
纳米线
氧化物
纳米技术
分析化学(期刊)
薄膜
冶金
复合材料
化学
光学
物理
色谱法
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|