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 Optical intensity mapping on the nanometer scale by near-field photodetection optical microscopy 相关领域
光学
光探测
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近场扫描光学显微镜
强度（物理）
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期刊：Optics Letters 作者：Robert C. Davis; Pavel Neužil; C. C. Williams 出版日期：1996-04-01 |
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