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 Impact of constant bias stress on reliability of IGZO thin-film transistors on softening polymer 恒定偏压对IGZO薄膜晶体管可靠性的影响
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：Gerardo Gutiérrez‐Heredia; Ovidio Rodriguez‐Lopez; Pedro Emanuel Rocha-Flores; Walter Voit 出版日期：2025-02-01 |
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