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 Physical Insights into High Current Collapse under ON-state Stress in RF GaN HEMTs 射频GaN HEMT导通态应力下大电流崩溃的物理见解
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Amratansh Gupta; Hao Yu; Sachin Yadav; A. Alian; Uthayasankaran Peralagu; et al 出版日期：2025-03-30 |
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