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 A dual-scanning white-light interferometer for exact thickness measurement of a large-thickness glass plate 用于大厚度玻璃板精确厚度测量的双扫描白光干涉仪
相关领域
干涉测量
光学
白光
白光干涉法
材料科学
对偶（语法数字）
物理
文学类
艺术
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Kaining Zhang; Osami Sasaki; Songjie Luo; Takamasa Suzuki; Yongxin Liu; et al 出版日期：2019-09-19 |
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