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 Study of temperature and radiation induced microstructural changes in Xe-implanted UO2 by TEM, STEM, SIMS and positron spectroscopy 用TEM、STEM、SIMS和正电子能谱研究Xe注入UO2中温度和辐射引起的微观结构变化
相关领域
正电子
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辐射损伤
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期刊：Journal of Nuclear Materials 作者：N. Djourelov; B. Marchand; Hristo Marinov; N. Moncoffre; Y. Pipon; et al 出版日期：2013-08-06 |
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