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![]() 直拉硅衬底结构缺陷对热SiO2薄膜介电击穿场的退化
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Y. Satoh; T. Shiota; Yoshio Murakami; Takayuki Shingyouji; Hidemine Furuya 出版日期:1996-05-15 |
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