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![]() 卷对卷磁显微镜中基于深度学习的图像分类自动检测长RE-123涂层导体中的局部障碍物
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期刊:IEEE Transactions on Applied Superconductivity 作者:N. Somjaijaroen; T. Kiss; K. Imamura; Kohei Higashikawa 出版日期:2022-03-07 |
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