The stochastic ferroelectric field-effect transistors-based probabilistic-bits: from device physics analysis to invertible logic applications

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标题	The stochastic ferroelectric field-effect transistors-based probabilistic-bits: from device physics analysis to invertible logic applications 基于随机铁电场效应晶体管的概率比特：从器件物理分析到可逆逻辑应用相关领域概率逻辑计算机科学因式分解可逆矩阵 CMOS芯片整数（计算机科学）晶体管算法电子工程数学电气工程工程类电压人工智能纯数学程序设计语言
网址	https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad1bbc
DOI	10.35848/1347-4065/ad1bbc doi
其它	期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Sheng Luo; Yihan He; Chao Fang; Baofang Cai; Xiao Gong; et al 出版日期：2024-01-05
求助人	超级的逊在 2024-01-09 09:41:34 发布自江苏，悬赏 40 积分
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