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Comparison of Displacement Damage in 4H-SiC Schottky Barrier Diodes Irradiated by 1 MeV Electrons and 3 MeV Protons |
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Xueqiang Yu; Xiaodong Xu; Hao Jiang; Pengfei Wan; Xinrui Xu; et al 出版日期:2026-01-01 |
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(2025-6-4)