标题 |
A device Simulation and model verification of single event transients in n/sup +/-p junctions
相关领域
物理
事件(粒子物理)
单事件翻转
计算机科学
瞬态(计算机编程)
心烦意乱
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网址 | |
DOI |
10.1109/TNS.2005.856718
doi
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求助人 |
研友_7LMK6Z 在
2020-04-13 22:29:02 发布,悬赏 10 积分
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