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 Collaborative Learning Attention Network Based on RGB Image and Depth Image for Surface Defect Inspection of No-Service Rail 相关领域
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期刊：IEEE-ASME Transactions on Mechatronics 作者：Jingpeng Wang; Kechen Song; Defu Zhang; Menghui Niu; Yunhui Yan 出版日期：2022-05-05 |
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