| 标题 |
 A BSIM-Based Predictive Hot-Carrier Aging Compact Model 相关领域
香料
杠杆（统计）
晶体管
计算机科学
可扩展性
电子工程
静电放电
网络列表
可靠性（半导体）
阈值电压
电压
电气工程
嵌入式系统
工程类
功率（物理）
物理
人工智能
数据库
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
Abstract: The continued challenge of front-end-of-line transistor reliability has long demanded physics-based SPICE compact models, not only for service lifetime estimation, but also for aging-aware device pathfinding with technology scaling and innovation. |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Criminology34
无极微光
熬夜波比
zgrmws
asdfzxcv
Jared
smottom
HOAN
热心的灵凡
子车茗
wanci
寻道图强
香蕉诗蕊
Tanya47
犹豫的行恶
spc68
猪猪侠
eric888
zhonglv7
tuanheqi
yznfly
Twonej
壮壮
ccc2
皖公网安备34019202002308
