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Single Event Effects Assessment of UltraScale+ MPSoC Systems Under Atmospheric Radiation 相关领域
片上多核系统
平均故障间隔时间
计算机科学
嵌入式系统
故障率
软件
航空电子设备
多处理
架空(工程)
可靠性
单事件翻转
静态随机存取存储器
可靠性工程
芯片上的系统
工程类
操作系统
计算机硬件
航空航天工程
软件工程
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期刊:IEEE Transactions on Reliability 作者:Dimitris Agiakatsikas; Nikos Foutris; Aitzan Sari; Vasileios Vlagkoulis; Ioanna Souvatzoglou; et al 出版日期:2023-09-29 |
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