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 Probing the growth quality of molecular beam epitaxy-grown Bi2Se3 films via in-situ spectroscopic ellipsometry 分子束外延Bi2Se3薄膜生长质量的原位椭偏光谱研究
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期刊：Journal of Crystal Growth 作者：Aofeng Bai; Maria Hilse; Prasanna Patil; Roman Engel-Herbet; F. C. Peiris 出版日期：2022-05-10 |
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