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Understanding Inherent Structural Defects at Topological Superconductor Interfaces using Advanced Electron Microscopy 利用先进电子显微镜了解拓扑超导体界面的固有结构缺陷
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期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Rosa E. Diaz; Tiang Wang; Michael A. Capano; Michael J. Manfra 出版日期:2023-07-22 |
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