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 Role of interface and bulk traps on the capacitance–voltage characteristics of WS2/Al2O3/Si capacitors 界面和体陷阱对WS2/Al2O3/Si电容器电容-电压特性的影响
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Kimberly Intonti; Emma Coleman; Alan Blake; Colin Lyons; A.J. Hydes; et al 出版日期：2023-06-16 |
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