| 标题 |
 Design of High-Reliability Memory Cell to Mitigate Single Event Multiple Node Upsets 相关领域
静态随机存取存储器
计算机科学
稳健性（进化）
访问时间
架空（工程）
可靠性（半导体）
香料
存储单元
晶体管
嵌入式系统
功率（物理）
电子工程
电气工程
计算机硬件
电压
物理
工程类
化学
操作系统
生物化学
量子力学
基因
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Hongchen Li; Liyi Xiao; Chunhua Qi; Jie Li 出版日期：2021-08-03 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
唐泽雪穗
eric888
GingerF
yangjiafengzi
从容芮
Criminology34
Li
GPTea
归尘
哈哈哈哈哈
Joye
andrele
ceeray23
辛勤的枫叶
清爽老九
MchemG
遇上就这样吧
ccm
浮游
魔幻的外套
冬雪丶消融
，。
wxyshare
竹筏过海
null
SciGPT
qc
星辰大海
皖公网安备34019202002308
