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  Machine learning-enhanced detection of minor radiation-induced defects in semiconductor materials using Raman spectroscopy 机器学习-使用拉曼光谱增强半导体材料中微小辐射诱导缺陷的检测
相关领域
拉曼光谱
半导体
材料科学
光电子学
薄脆饼
半导体器件
背景（考古学）
半导体器件制造
纳米技术
光学
物理
生物
古生物学
图层（电子）
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| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Jia Yi Chia; Nuatawan Thamrongsiripak; Sornwit Thongphanit; Noppadon Nuntawong 出版日期：2024-01-08 |
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