AI-Powered Terahertz VLSI Testing Technology for Ensuring Hardware Security and Reliability

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标题	AI-Powered Terahertz VLSI Testing Technology for Ensuring Hardware Security and Reliability
网址	https://doi.org/10.1109/access.2021.3075429
DOI	10.1109/access.2021.3075429 doi
其它	期刊：IEEE Access 作者：Naznin Akter; Masudur R. Siddiquee; Michael Shur; Nezih Pala 出版日期：2021
求助人	张均旗在 2026-06-30 17:04:03 发布自广东，悬赏 10 积分
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