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Investigating the impact of gate stacks on ALD IGZO transistors via source/drain contact characterization |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Zhan-Yuan Huang; Zhi-Huai Liu; Zi-Ying Huang; Kuan Liang; Chao Xu; et al 出版日期:2026-06-08 |
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(2025-6-4)