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 Defect-LoRA: Controllable defect data augmentation based on low-rank adaptation for surface defect recognition under limited data Defect-LoRA：基于低秩自适应的有限数据下表面缺陷识别的可控缺陷数据扩充
相关领域
计算机科学
适应（眼睛）
秩（图论）
模式识别（心理学）
曲面（拓扑）
人工智能
数据挖掘
数学
心理学
神经科学
几何学
组合数学
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| 其它 |
期刊：Expert Systems with Applications 作者：Zhe Zhang; Yuhang Zhou; Jie Ma 出版日期：2024-12-01 |
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