Artificial neural network and acoustic emission-based fault diagnosis for wide temperature range silicon carbide MOSFET application

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标题	Artificial neural network and acoustic emission-based fault diagnosis for wide temperature range silicon carbide MOSFET application
网址	https://doi.org/10.1088/1361-6641/ae2b9d
DOI	10.1088/1361-6641/ae2b9d doi
其它	期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Ruby Beniwal; Shruti Kalra 出版日期：2026
求助人	肥美的翠花在 2026-03-09 19:32:31 发布自甘肃，悬赏 10 积分
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