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  On-wafer probing-kit for RF characterization of silicon photonic integrated transceivers 相关领域
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| DOI |
10.1364/oe.25.013340
doi
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期刊：Optics Express 作者：Shangjian Zhang; Chong Zhang; Heng Wang; Yong Liu; Jon D. Peters; et al 出版日期：2017-06-02 |
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