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 A survey on deep learning for patent analysis 用于专利分析的深度学习研究综述
相关领域
计算机科学
深度学习
专利可视化
分类
数据科学
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领域（数学分析）
人工智能
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领域（数学）
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期刊：World Patent Information 作者：Ralf Krestel; Renukswamy Chikkamath; Christoph Hewel; Julian Risch 出版日期：2021-06-01 |
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