| 标题 |
基于常规X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射(XRD)技术的透明柔性导电膜薄膜厚度表征 |
| 网址 | |
| DOI |
10.20236/j.CJIAC.2025.01.011
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| 其它 | 张少鸿、莫家媚、苏秋成 |
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(2025-6-4)