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The Effects of Temperature on the Single-Event Transient Response of a High-Voltage (>30 V) Complementary SiGe-on-SOI Technology 温度对高压(>30 V)互补SiGe-on-SOI技术单事件瞬态响应的影响
相关领域
绝缘体上的硅
瞬态(计算机编程)
光电子学
材料科学
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电气工程
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高压
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Anup P. Omprakash; Adrian Ildefonso; Zachary E. Fleetwood; George N. Tzintzarov; Adilson S. Cardoso; et al 出版日期:2018-12-13 |
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