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Advanced 3D Localization in Lock-in Thermography Based on the Analysis of the TRTR (Time-Resolved Thermal Response) Received Upon Arbitrary Waveform Stimulation 相关领域
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期刊:Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:Sebastian Brand; Michael Kögel; Christian U. Große; Frank Altmann; Brian Lai; et al 出版日期:2019-12-01 |
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