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Effect of temperature dependence of 2DEG on device characteristics of field‐plated recessed‐gate III‐nitride/β‐Ga2O3 nano‐HEMT 相关领域
氮化物
材料科学
纳米技术
图层(电子)
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期刊:International Journal of Numerical Modelling Electronic Networks Devices and Fields 作者:G. Purnachandra Rao; Trupti Ranjan Lenka; Hieu Pham Trung Nguyen; Nour El I. Boukortt; Giovanni Crupi 出版日期:2024-07-01 |
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