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Fatigue Mechanism of Die-Attach Joints in IGBTs Under Low-Amplitude Temperature Swings Based on 3D Electro-Thermal-Mechanical FE Simulations 相关领域
粘塑性
材料科学
焊接
模具(集成电路)
复合材料
压力(语言学)
结构工程
有限元法
工程类
语言学
哲学
纳米技术
本构方程
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期刊:IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者:Yongle Huang; Hongfei Deng; Yifei Luo; Fei Xiao; Binli Liu; Xin Tang 出版日期:2020-03-07 |
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